Revista de Ciencias Tecnológicas (RECIT). Volumen 2 (3): 137-143.
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ISSN: 2594-1925
1. Introducción
No basta solo el conocer los modelos que relacionan
la vida y los esfuerzos, para realizar una prueba de
vida acelerada, sino que también se debe definir un
plan de prueba para determinar los niveles de los
parámetros que se afectan el producto y definir el
número de muestras. En este artículo se analiza un
divisor óptico (ver Figura 1).
Figura 1. Divisor óptico [1].
Actualmente en la industria de las
telecomunicaciones se utilizan comúnmente pruebas
de vida acelerada para obtener los tiempos de falla del
producto al ser sometido a elevadas condiciones de
estrés como temperatura, humedad, entre otros, como
resultado el producto presenta fallas en un periodo
más corto de tiempo que el esperado bajo condiciones
normales de estrés [2]. Los datos acerca de las fallas
obtenidos de las pruebas de vida acelerada pueden ser
extrapolados con referencia hacia el nivel de estrés en
condiciones normales y así realizar una estimación de
la distribución de vida del producto [3]. Hoy en día se
busca y se pretende evitar resultados experimentales
pobres y obtener información de inferencia más
exacta sobre el modelo de aceleración y sobre la
predicción de confiabilidad, por lo cual es necesario
contar con un plan de pruebas de vida aceleradas
efectivo, ya que esto nos ayuda a lograr optimización
estadística [2].
Los datos de vida (tiempos de falla) se obtienen de
pruebas aceleradas, comúnmente realizadas en
laboratorio, nos referimos a datos sobre esfuerzos a
los que el producto encontrara bajo condiciones
normales, posteriormente se procede a elegir un
modelo apropiado de aceleración física que se asimila
a elegir un modelo de distribución de vida, por lo que
primero se debe identificar el modo de falla y los
esfuerzos que son relevantes, es decir los esfuerzos
que aceleran el mecanismo de falla [4]. En esta
investigación se utiliza el modelo Coffin-Manson, la
distribución Weibull y en la sección de metodología
se identifica el modo de falla que es el ciclo de
temperatura. Las variaciones de temperatura pueden
ser el resultado del auto calentamiento de productos
que se encienden y apagan repetidamente, o pueden
ser el resultado de cambios ambientales cíclicos,
como las variaciones de temperatura del día a la
noche u otras causas [5]. El factor de aceleración
resultante de la prueba del ciclo de temperatura es la
relación entre la vida útil del producto en condiciones
de funcionamiento normales y la vida en condiciones
de prueba acelerada, y viene dada por la ecuación (1)
de Coffin-Manson:
𝐴𝐹=(
∆
∆
)
(1)
Donde:
AF = Factor de aceleración
∆𝑇
= Diferencia de temperatura de prueba (°C)
∆𝑇
= Diferencia de temperatura de uso (°C)
m = Fatiga o exponente Coffin-Manson
2. Metodología
En base al historial de pruebas realizadas en los
divisores ópticos y sus resultados se concluye que
siguen una distribución Weibull, por lo que la
metodología está enfocada en esta distribución, que
utiliza la ecuación (2) para determinar la
confiabilidad.
𝑅
(
𝑡
)
=𝑒𝑥𝑝−
(2)
Y para determinar los parámetros de forma 𝛽 y escala
𝜂 se utilizan las ecuaciones (3), (4) y (5)
respectivamente [6].
𝛽=
.∗
(3)